AUZEF Güz Dönemi Sınav Tarihleri 2026: Vize Sınavı Ne Zaman, Giriş Belgesi Nasıl Alınır?
İstanbul Üniversitesi Açık ve Uzaktan Eğitim Fakültesi (AUZEF) öğrencilerinin 2026-2027 eğitim öğretim yılı güz dönemi sınav takvimi belli oldu. Güz dönemi ara sınavları 14-15 Kasım 2026 tarihlerinde yapılacak. Hafta sonu gerçekleştirilecek sınavlara katılacak öğrenciler, sınav giriş belgelerine üniversitenin dijital platformları üzerinden ulaşabilecek.
AUZEF güz dönemi vize sınavları öncesinde öğrenciler, sınava girecekleri okul, bina ve salon bilgilerini öğrenmek için giriş belgelerini kontrol ediyor. Peki, AUZEF sınav giriş belgesi nereden ve nasıl alınır? İşte 2026-2027 güz dönemi sınav takvimi ve merak edilen ayrıntılar...
2026 AUZEF Güz Dönemi Sınav Tarihleri
İstanbul Üniversitesi tarafından yayımlanan 2026-2027 akademik takvimine göre AUZEF öğrencilerinin güz dönemi boyunca katılacağı sınav tarihleri şöyle:
-
Ara sınav (Vize): 14-15 Kasım 2026
-
Dönem sonu sınavı (Final): 26-27 Aralık 2026
-
Bütünleme sınavı: 30-31 Ocak 2027
Güz dönemi vize sınavları 14-15 Kasım tarihlerinde hafta sonu oturumları şeklinde gerçekleştirilecek. Final sınavları aralık ayının son hafta sonunda, bütünleme sınavları ise ocak ayının son günlerinde yapılacak.
AUZEF Sınav Giriş Belgesi Nasıl Alınır?
14-15 Kasım 2026 tarihlerinde düzenlenecek vize sınavlarına katılacak öğrenciler, sınav giriş belgelerini AUZEF'in resmi dijital platformlarından alabilecek.
Belgeye ulaşmak için şu adımlar izlenebilecek:
-
auzefsinav.istanbul.edu.tradresine giriş yapın. -
AKSİS kullanıcı adı ve şifrenizle sisteme giriş yapın.
-
Sınav giriş belgenizi görüntüleyerek indirin.
Öğrenciler ayrıca AUZEF Mobil uygulaması üzerinden de AKSİS kullanıcı adı ve şifreleriyle giriş yaparak sınav belgelerine ulaşabilecek.
AUZEF Sınav Giriş Belgesinde Hangi Bilgiler Yer Alıyor?
Sınav giriş belgesi, öğrencilerin sınava nerede katılacağını gösteriyor. Belgede sınavın yapılacağı okul, bina ve salon bilgileri yer alıyor. Öğrencilerin sınav öncesinde bu bilgileri kontrol etmesi gerekiyor.
